Jinan, China – KASON stellt das tragbare metallurgische Mikroskop BM-BJ500 vor, eine kompakte Lösung für die metallografische Analyse und Fehleranalyse großer Metallwerkstücke vor Ort.

Im Gegensatz zu herkömmlichen Labormikroskopen, die Schneiden und Probenahme erfordern, können mit dem BM-BJ500 große Bauteile direkt vor Ort poliert und untersucht werden, wodurch die Integrität des Werkstücks erhalten bleibt. Das System eignet sich für Anwendungen in der Luftfahrtindustrie, im Maschinenbau, im Fahrzeugbau, bei der Inspektion von Kesseln und Druckbehältern, in der Petrochemie, im Eisenbahn-, Schiffbau- und Energiesektor.

Das Mikroskop verfügt über achromatische Planobjektive mit 10-facher, 20-facher und 50-facher Vergrößerung und großem Arbeitsabstand, LED-Beleuchtung, Grob- und Feinfokussierung sowie eine magnetische XY-Unterstützung, die für verschiedene Werkstückoberflächen geeignet ist. Optionale Kamera- und metallografische Analysesoftware ermöglichen die Bilderfassung, Mikrostrukturanalyse und die Erstellung von Prüfberichten.

Zur Probenvorbereitung vor Ort kann das System mit Schleif- und Polierzubehör ausgestattet werden. Das Probenvorbereitungsverfahren erfolgt gemäß GB/T 13298-2015.

Schlüsselwörter: Tragbares metallurgisches Mikroskop, metallografisches Mikroskop, metallografische Analyse vor Ort, Fehleranalyse, Metallmikrostrukturanalyse, Materialprüfung, GB/T 13298-2015.